【技術(shù)文章】?jī)?nèi)應(yīng)力的測(cè)量方法-X射線衍射法 2014-07-23
用X射線衍射法可以測(cè)量出薄膜結(jié)構(gòu)的面間距,將測(cè)量值與材料的標(biāo)準(zhǔn)面間距相比可以求出薄膜的應(yīng)變,從而求出薄膜的內(nèi)應(yīng)力。為了使衍射峰不過于彌散,薄膜的厚度至少要數(shù)十納米以上。圖退火前后金剛石薄膜的X射線衍射圖。由圖可見,薄膜各晶面在退火前的峰位要大于退火后薄膜對(duì)應(yīng)...